图3为依据本发明另一实施方式的半导体晶圆干燥设备的剖视图。具体实施方式以下将以附图公开本发明的多个实施方式。为明确说明起见,许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而,应了解到,这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说,在本发明的部分实施方式中,这些实务上的细节是非必要的。此外,为简化附图起见,一些公知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。附图与说明书中尽可能使用相同的元件符号表示相同或相似的部分。除非另外定义,否则本文使用的所有术语(包含技术以及科学术语)对于所属领域中的技术人员通常理解的涵义。还应理解到,诸如常用的字典中定义的术语的解读,应使其在相关领域与本发明中具有一致的涵义,且将不以理想化或过度正式的意义解释,除非明确如此定义。请参照图1,其为依据本发明一实施方式的半导体晶圆干燥设备100的剖视图。半导体晶圆干燥设备100是用以干燥半导体晶圆200,半导体晶圆200为包含半导体材料的圆形薄片,其常用于集成电路的制造,西安半导体晶圆产品介绍。在本实施方式中,如图1所示,半导体晶圆干燥设备100包含基座110,西安半导体晶圆产品介绍、壳体120以及微波产生器130,西安半导体晶圆产品介绍。基座110被配置成承载半导体晶圆200。壳体120以金属制成。半导体晶圆推荐货源.?西安半导体晶圆产品介绍
为了能将花篮内部的圆形空间灵活地分隔为半圆形、不同角度扇形等不同形状,以适用于相应形状的晶圆,推荐地,该治具还包括一组竖直挡板;所述平放花篮的镂空侧壁内缘及相应位置的圆形底盘上设置有一系列用于固定所述竖直挡板的卡槽,竖直挡板与相应的卡槽配合可将平放花篮内的空间划分为不同角度的扇形空间。进一步推荐地,所述竖直挡板上设置有一组通孔,以便清洗液在所分隔的不同空间中流动。为了适用于不同规格的晶圆清洗,推荐地,所述一组平放花篮中包括多个具有不同半径圆形底盘的平放花篮。推荐地,所述提把的上端带有挂钩,以便在清洗时将整个治具悬挂在清洗槽边缘或挂杆上。为了便于公众理解,下面通过一个实施例并结合附图来对本实用新型的技术方案进行详细说明:如图1、图2所示,本实施例的治具包括提把1和一组不同尺寸规格(例如对应于**常见的4寸、5寸、6寸晶圆的尺寸)的平放花篮2;所述提把1沿竖直方向均匀设置有一组连接端口11(本实施例的连接端口为5个,相邻端口间的高度差为5cm),提把1的顶端还设置有用于悬挂清洗治具的挂钩;所述平放花篮2由圆形底盘21和设置在圆形底盘21边缘的一圈镂空侧壁22组成,圆形底盘21上设置有一组通孔。合肥半导体晶圆价格信息洛阳怎么样半导体晶圆?
所述切割腔靠下位置向前开口设置,所述切割腔的底面上前后滑动设有接收箱,所述接收箱内设有开口向上的接收腔,所述接收腔与所述切割腔连通,所述接收腔内存有清水,所述接收箱的前侧面固设有手拉杆。进一步的技术方案,所述动力机构包括固设在所述动力腔底壁上的第三电机,所述第三电机的顶面动力连接设有电机轴,所述电机轴的顶面固设有***转盘,所述升降腔的上下壁之间转动设有***螺杆,所述***螺杆贯穿所述升降块,并与所述升降块螺纹连接,所述***螺杆向下延伸部分伸入所述动力腔内,且其底面固设有第二轮盘,所述第二轮盘的底面与所述***转盘的顶面铰接设有第三连杆,所述第二轮盘直径大于所述***转盘的直径。进一步的技术方案,所述传动机构包括滑动设在所述移动腔前后壁上的移动块,所述海绵向所述移动腔延伸部分伸入所述移动腔内,并与所述移动块固定连接,所述移动腔的下侧连通设有冷却水腔,所述冷却水腔内存有冷却水,所述海绵向下延伸部分伸入所述冷却水腔内,所述移动块的顶面固设有第四连杆,所述传动腔的底壁上转动设有第二螺杆,所述第二螺杆的外周上螺纹连接设有螺套,所述螺套与所述第四连杆之间铰接设有第五连杆。进一步的技术方案。
可以利用多重的内框结构,例如回字型的内框结构来加强结构强度。所谓的回字型,就是内框内还有内框的结构。在一实施例当中,多重的内框结构可以是同心的,以便简化设计。在另一实施例当中,多重的内框结构的框的宽度是相同的。在更一实施例当中,大内框结构与小内框结构的形状可以是相应的。举例来说,大内框结构与小内框结构的形状可以是相同的,但大小不同。框的宽度可以与内框结构的大小成比例。在一实施例当中,可以具有两个以上的多重内框结构。请参考图11b所示,其为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面1100的一示意图。图11b所示的实施例,为回字型的内框结构,就是内框内还有内框的多重内框结构。本申请所欲保护的技术特征在于,晶圆层的边框结构的内部至少具有一个或多重内框结构,用于加强该一个或多重内框结构内部的结构,本申请并不限定内框结构的个数。请参考图12所示,其为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面1200的一示意图。该结构的剖面1200可以是图10a所示结构1000的dd线剖面。本领域普通技术人员可以透过图12理解到,本申请并不限定该树酯层1040a与1040b外缘的形状,其可以是正方形、矩形、椭圆形、圆形。半导体晶圆研磨技术?
ticuni)、钛合金、钒镍合金、银合金、镍合金、铜合金、纯钴,也可以包含铝、钛、镍、银、镍、铜各种金属的合金。如图16e所示的一实施例当中,步骤1550所作出的金属层的上表面,也就是第四表面,是一个平面。该第四表面和晶圆层的下表面,亦即***表面,应当是平行的。如图16f所示的一实施例当中,基板结构的金属层1010可以更包含两个金属子层1011与1012。这两个金属子层1011与1012的材质可以相同,也可以不同。金属子层1011的形状与第二表面8222相应。金属子层1012的形状与金属子层1011相应。制作金属子层1011的工法可以和制作金属子层1012的工法相同,也可以不同。图16f所示的实施例的一种变化当中,也可以只包含一层金属层1010,其形状与第二表面822相应。如图16g所示的一实施例当中,基板结构可以包含两个金属子层1011与1012。金属子层1011的形状与第二表面822相应。金属子层1012的下表面与金属子层1011的上表面相应,但金属子层1012的上表面,也就是第四表面,是一个平面。该第四表面和晶圆层的下表面,亦即***表面,应当是平行的。虽然在图16f与16g的实施例只示出两个金属子层1011与1012,但本领域普通技术人员可以理解到步骤1550可以制作出包含更多金属子层的金属层。半导体晶圆价格走势..成都8寸半导体晶圆厚度多少
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图18b是图18a所示通孔的顶视图。图18c揭示了形成在晶圆18010上的多个槽18036的剖视图。同样的,槽18036中由声波能量产生的气泡18012增强了对杂质的去除,如残留物和颗粒。图18d是图18c所示槽18036的顶视图。饱和点rs被定义为通孔18034、槽18036或其他凹进区域内可容纳的**大气泡量。当气泡的数量超过饱和点rs时,清洗液将受图案结构内的气泡阻挡且很难到达通孔18034或槽18036侧壁的底部,因此,清洗液的清洗效果会受到影响。当气泡的数量低于饱和点时,清洗液在通孔18034或槽18036内有足够的活动路径,从而获得良好的清洗效果。低于饱和点时,气泡总体积vb与通孔或槽或其他凹进区域的总体积vvtr的比值r为:r=vb/vvtr当处于饱和点rs时,比值r为:r=vb/vvtr=rs通孔18034,槽18036或其他凹进区域内气泡总体积为:vb=n*vb其中,n为通孔、槽或凹进区域内的气泡总数,vb为单个气泡的平均体积。如图18e至图18h所示,当超声波或兆声波能量被应用于清洗液中时,气泡18012的尺寸逐渐膨胀到一定体积,从而导致气泡总体积vb和通孔、槽或其他凹进区域的体积vvtr的比值r接近或超过饱和点rs。膨胀的气泡18012堵塞了清洗液体交换和***通孔或槽中杂质的路径。在这种情况下。西安半导体晶圆产品介绍
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